Product Samevatting
Mini LED-Automatiseerde optische inspectiemasjien los ‘t probleem vaan ultra--finanne minder es 0,1 mm, kleine groete, dichte indeiling en extreem lestige kwaliteitsinspectie. Mèt hoege{{3} resolutiecamera’s en AI-verbeterde algoritme, kin ‘t mie es 10 defecte eigesjappe zoe wie offset detectere, zoe wie offset, soldeerpasta, helderheid en soldeertekort. ‘t Veult op ‘t punt vaan oetstraling en leechte inspectie op dezelfde tied, mèt ‘n gemiste detectiesnelheid vaan minder es 0,1%, ‘n detectienauwkeurigheid beter es 5um en ‘n detectiesnelheid vaan 2000㎜2/seconde.
Produktige functies
1
Mini LED AOI-inspectiematrix weurt automatisch gegenereerd en gecorrigeerd. Multi- punt huugtemeting en automatisch compensatie vaan huugteversjèl.
2
Gepatenteerde leechbron en hoege-resolutielens um ultra{{1} microsrodefecte te vange.
3
AI-algoritme ondersteuning verbetert effectief de detectienauwkeurigheid.
AOI Mini LED-substraot
Eigensjappe vaan ‘t product
Kin de kleinste 3*5 miljoen chip detectere
Ondersteunt mie es 100.000 chips per board
Vergaof inspectie veur en nao ove
Mini LED Test Resultaote
Produktouwpassing
● Mini LED AOI-inspectieprodukte: minder deile, offset, vaste, boetelandse materie, rotatie, euverlapping, grafstein, dröjvende, oontbrekende oonderdeile, mierdere deile.
Mini LED-Automatiseerde optische inspectiemasjien is ‘n belangrieke inspectieapparatuur in de Minih{{0}LELELED-industrie, die ‘n belangrieke rol speelt bij ‘t verzekere vaan productkwaliteit en ‘t verbetere vaan de opbringst. Es u ‘n effisjentere oplossing nudig heet, raadpleeg je Hongke Geavanseerde beheerd Co., Ltd.
Heitelik: mini leidde geautomatiseerde optische inspectiemasjien, leidde China mini geleide geautomatiseerde optische inspectiemasjien producente, leveranciers, febrik.
Technische parameters
● Detectienauwkeurigheid: dèks tot ±1-3μm
● Detectiesnelheid: tot 100-1000mm2/s aafhankelek vaan de resolutie
● Minimale detectiegrootte: Kan Minih-LELED-chips vaan 10-50μm detectere
● Herhaolbaarheid: binne ±1μm
● Inspectieprodukte: helderheid, chromatiteit, uniformiteit, defecte en aandere 20+ parameters
